A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x
ລາຍລະອຽດຂອງສິນຄ້າ
| A63.7081 ອາວຸດປືນພາກສະ ໜາມ Schottky ການສະແກນກ້ອງຈຸລະທັດເອເລັກໂຕຣນິກ Pro FEG SEM | ||
| ຄວາມລະອຽດ | 1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE) | |
| ການຂະຫຍາຍ | ຂະ ໜາດ 15x ~ 800000x | |
| Gun ໄຟຟ້າ | Schottky Emission Electron Gun | |
| Beam ໄຟຟ້າໃນປະຈຸບັນ | 10pA ~ 0.3μA | |
| ການເລັ່ງ Voatage | 0 ~ 30KV | |
| ລະບົບດູດຝຸ່ນ | 2 ປ້ ຳ ນ້ ຳ ມັນ Ion, ປັleມໂມເລກຸນ, ຈັກສູບຈັກກົນ | |
| ເຄື່ອງກວດຈັບ | SE: ເຄື່ອງກວດເອເລັກໂຕຣນິກສູນຍາກາດສູນຍາກາດສູງ (ພ້ອມດ້ວຍເຄື່ອງປ້ອງກັນເຄື່ອງກວດ) | |
| BSE: ເຄື່ອງກວດກະຈາຍ 4 ສ່ວນແບ່ງຕາມ ລຳ ດັບ | ||
| CCD | ||
| ຂັ້ນຕອນຂອງຕົວຢ່າງ | ຂັ້ນຕອນມໍເຕີອີເລັກໂທນ 5 ແກນ | |
| ຊ່ວງການເດີນທາງ | X | ຂະ ໜາດ 0 ~ 150 ມມ |
| Y | ຂະ ໜາດ 0 ~ 150 ມມ | |
| Z | 0 ~ 60 ມມ | |
| R | 360º | |
| T | -5º ~ 75º | |
| ເສັ້ນຜ່າສູນກາງຕົວຢ່າງສູງສຸດ | ຂະ ໜາດ 320mm | |
| ການດັດແກ້ | EBL; STM; AFM; ຂັ້ນຕອນການໃຫ້ຄວາມຮ້ອນ; ຂັ້ນຕອນ Cryo; ຂັ້ນຕອນທີ່ມີຄວາມເຄັ່ງຄັດ; ເຄື່ອງຈັກຂະ ໜາດ ນ້ອຍນາໂນ; SEM + ເຄື່ອງເຄືອບ; SEM + ເລເຊີ້ແລະອື່ນໆ. | |
| ອຸປະກອນເສີມ | ເຄື່ອງກວດຈັບ X-Ray (EDS), EBSD, CL, WDS, ເຄື່ອງເຄືອບແລະອື່ນໆ. | |
ຂໍ້ດີແລະກໍລະນີຕ່າງໆ
| ການສະແກນເອເລັກໂຕຣນິກກ້ອງຈຸລະທັດ (sem) ແມ່ນ ເໝາະ ສົມ ສຳ ລັບການສັງເກດເບິ່ງຊັ້ນເທິງຂອງໂລຫະ, ເຊລາມິກ, ຊີມັງ, ແຮ່ທາດ, ຊີວະວິທະຍາ, ໂພລີເມີ, ອົງປະກອບແລະວັດສະດຸຂະ ໜາດ ໜຶ່ງ ມິຕິ, ສອງມິຕິແລະສາມມິຕິ ຮູບພາບເອເລັກໂຕຣນິກທີ່ມີຄວາມລະອຽດອ່ອນ). ມັນສາມາດຖືກ ນຳ ໃຊ້ໃນການວິເຄາະຈຸດ, ເສັ້ນແລະສ່ວນປະກອບຂອງພື້ນທີ່ຂອງຈຸລິນຊີ. ການສືບສວນຄະດີອາຍາກ່ຽວກັບຄວາມປອດໄພສາທາລະນະ, ກະສິ ກຳ, ປ່າໄມ້ແລະຂົງເຂດອື່ນໆ. |
ຂໍ້ມູນບໍລິສັດ
ຂຽນຂໍ້ຄວາມຂອງທ່ານທີ່ນີ້ແລະສົ່ງໃຫ້ພວກເຮົາ
